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      產品展示/ Product display

      您的位置:首頁  /  產品展示  /  冷熱沖擊試驗箱  /  兩槽式冷熱沖擊試驗箱  /  TSD-150F-2P半導體專用冷熱沖擊箱 芯片級溫度循環試驗

      半導體專用冷熱沖擊箱 芯片級溫度循環試驗

      半導體專用冷熱沖擊箱 芯片級溫度循環試驗是一種高精度環境測試設備,專為芯片、半導體元件、集成電路(IC)等電子產品的可靠性測試而設計。該設備通過快速溫度變化(通常-65℃至+150℃或更高范圍),模擬溫度環境,檢測半導體材料在熱應力下的性能變化,確保產品在嚴苛條件下的穩定性和耐久性。

      • 產品型號:TSD-150F-2P
      • 廠商性質:生產廠家
      • 更新時間:2026-01-02
      • 訪  問  量:888
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      聯系電話:0769-81085056

      詳細介紹

      半導體專用冷熱沖擊箱 芯片級溫度循環試驗生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術,一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商,皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

      產品詳情

      半導體專用冷熱沖擊箱是一種高精度環境測試設備,專為芯片、半導體元件、集成電路(IC)等電子產品的可靠性測試而設計。該設備通過快速溫度變化(通常-65℃至+150℃或更高范圍),模擬溫度環境,檢測半導體材料在熱應力下的性能變化,確保產品在嚴苛條件下的穩定性和耐久性。

      用途

      • 芯片可靠性測試:評估半導體器件在快速溫變條件下的性能穩定性。

      • 封裝材料測試:檢測芯片封裝材料的熱膨脹系數(CTE)及熱疲勞特性。

      • 失效分析:加速老化測試,提前發現潛在缺陷(如焊點開裂、分層等)。

      • 工藝驗證:用于晶圓制造、封裝工藝的溫變適應性測試。


      半導體專用冷熱沖擊箱 芯片級溫度循環試驗

      技術參數

      項目參數
      溫度范圍-70℃ ~ +150℃(可定制更高)
      溫變速率15℃/min ~ 25℃/min(液氮冷卻可達30℃/min以上)
      溫度恢復時間≤5min(從高溫到低溫或反之)
      溫度波動度±0.5℃
      溫度均勻性±2.0℃
      內部容積50L/100L/200L(可定制)
      控制系統7英寸觸摸屏,支持程序設定、數據存儲、遠程監控
      安全保護超溫保護、短路保護、漏電保護、壓縮機過載保護

      箱體結構與材質

      • 外殼:304不銹鋼或優質冷軋鋼板,防腐蝕、耐高溫。

      • 內膽:SUS304不銹鋼,耐高低溫沖擊,抗氧化。

      • 保溫層:高強度聚氨酯發泡材料,確保低能耗和溫度穩定性。

      • 觀察窗:雙層鋼化玻璃,帶加熱防霧功能,便于實時觀察測試樣品。

      • 樣品架:可調節不銹鋼托盤,適用于不同尺寸的晶圓、芯片載體。

      溫度控制系統

      • 制冷系統:采用進口壓縮機+液氮輔助制冷,確保超低溫快速降溫。

      • 加熱系統:鎳鉻合金電加熱器,PID精準控溫,避免溫度過沖。

      • 氣流循環:強制對流設計,保證箱內溫度均勻性。

      • 控制方式:PLC+觸摸屏控制,支持多段編程、循環測試、數據導出。



      應用場景

      • 半導體制造:晶圓、封裝測試、IC可靠性驗證。

      • 汽車電子:車規級芯片(AEC-Q100)溫度循環測試。

      • 航空航天:高可靠性半導體器件的環境模擬。

      • 科研機構:新材料(如第三代半導體GaN/SiC)的熱應力研究。

      技術特點

      1. 超快速溫變:采用高效制冷技術,實現芯片級快速溫度沖擊。

      2. 高精度控制:PID算法+高靈敏度傳感器,確保±0.5℃的控溫精度。

      3. 低熱慣性設計:減少溫度滯后,提高測試效率。

      4. 智能安全防護:多重報警機制,防止樣品損壞和設備故障。

      5. 模塊化結構:便于維護和升級,降低使用成本。

      應用領域

      • 半導體行業:晶圓廠、封測廠、IC設計公司。

      • 電子制造業:功率器件、存儲芯片、傳感器測試。

      • 新能源行業:光伏逆變器、電動汽車電控模塊測試。

      總結

      半導體專用冷熱沖擊箱是芯片研發和量產過程中測試設備,其高精度溫控、快速溫變能力和穩定性能,可有效提升半導體產品的可靠性和良率,適用于各類嚴苛環境下的質量驗證。


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